半導體分立器件測試解決方案-合肥匯聯電子有限公司

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半導體分立器件測試解決方案

LDO芯片特性測試方案

更新時間：2022-05-12

一、概述LDO，全稱為“Low Dropout Regulator”，是一種低壓差線性穩壓元器件。其工作原理為，使用在其飽和區域內運行的晶體管或場效應管（FET），從應用的輸入電壓中減去超額的電壓，產...
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氣敏電阻測試應用案例

更新時間：2022-06-09

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光電二極管PD測試方案

更新時間：2022-06-09

光電二極管（Photo-Diode）是由一個PN結組成的半導體器件，具有單方向導電特性。光電二極管是在反向電壓作用之下工作的，在一般照度的光線照射下，所產生的電流叫光電流。如果在外電路上接上負載，負載...
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LED電性能測試方案

更新時間：2022-06-09

一、概述LED（全稱為Light-emitting diode）是一種能發光的半導體電子元件。和普通的二極管一樣，這些半導體材料會預先透過注入或攙雜等工藝以產生p、n架構。LED只能夠往一個方向導通（...
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